|
|
深圳市四元数数控技术有限公司Mark点定位有什么原理和步骤?相信不少人是有疑问的,今天深圳市四元数数控技术有限公司就跟大家解答一下!
j8 c3 X4 E+ U( Y
/ x% R( V O; B8 b6 u* K* s2 Y7 t" s- VMark点定位主要应用于被测物体幅面巨大,远远超过相机视野时(一般在检测PCB,或者大料盘)。
/ o. V j6 r! {% ^
2 `$ o U, z( W: T相比于传统的检测方法,Mark点定位可以大大提高检测效率,但是因为考虑到被检物体冷热缩放、刚体形变等原因,会一定程度降低检测精度,实际项目中需要通过添加相关系数补偿。
8 d% ~; m: R' j- s" J1 y: t! G- o) E2 u& G5 s% U' j" P
深圳市四元数数控技术有限公司Mark点定位原理和步骤如下:
4 Y' R" E" @) J
; z- R4 F0 _9 A5 F& N |: M2 R5 F1、硬件准备8 |* v$ n3 C9 m+ X5 T$ P8 A
5 ^" c. ]% U! n, u' n( _7 c相机、二维平台、有特征的被检物体,该物体一般对角会有特征区域,即mark点;+ O5 }) I( d3 g7 g1 e
0 G. D9 i# G9 G. E2、相机标定9 C0 X& k2 e8 i, y
' }0 z& R. ]$ Y ?. }7 q- q
确定像素单元,即像素毫米映射;
K) r6 _5 @' l+ Q7 c+ Q: s; a+ t% G# }3 F
3、平台回零后,将两个mark点分别移动到相机视野中心,记录这两个平台坐标系下的位置坐标1,位置坐标2;
4 W7 J9 P' L @' j6 W( n7 F% [! w* H7 O, V% l$ i* y: M$ G
4、根据客户提供被测物体的图纸我们可以确定被检位置相对于这两个mark点建立的坐标系的相对位置;- t# b4 B" L- Z
; P& x. _$ w; R# f" M' U
5、由3确定mark点后,将被检位置转移到平台坐标系下,即可确定被检位置平台坐标,移动到相机视野后进行检测。. s9 i" ^" z) B' r
b( U |1 T% Z* z N9 q# e! h以上就是深圳市四元数数控技术有限公司小编给你们介绍的深圳市四元数数控技术有限公司Mark点定位有什么原理和步骤,希望大家看后有所帮助! |
|